The structures of the BaTiO3 films

The structures of the BaTiO3 films were examined by an X-ray diffractometer (D/Max-2400, Rigaku) with Cu Ka radiation. The surface morphology and roughness are measured by an atomic force microscope (AFM, Dimen-sion 3000, Veeco) and a field-emission scanning electronmicroscope (FESEM, JSM-7000 F, JEOL). The dielectric properties were investigated by using a precision impe-dance analyzer (4294A, Agilent).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

โครงสร้างของฟิล์ม BaTiO3 ถูก examined โดยการ X-ray diffractometer (D/Max-2400, Rigaku) กับรังสี Cu Ka โดยมีกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM, Dimen-sion 3000, Veeco) และการปล่อยแกน electronmicroscope (FESEM, F JSM-7000, JEOL) วัดสัณฐานพื้นผิวและความหยาบ คุณสมบัติเป็นฉนวนถูกตรวจสอบ โดยใช้เครื่องวิเคราะห์ impe เต้นความแม่นยำ (4294A, Agilent)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างของภาพยนตร์ BaTiO3 ถูกตรวจสอบโดย diffractometer X-ray (D / แม็กซ์-2400 ของ Rigaku) ​​กับการฉายรังสี Cu กา สัณฐานพื้นผิวและความหยาบกร้านจะถูกวัดด้วยพลังกล้องจุลทรรศน์อะตอม (AFM, Dimen-Sion 3000, วีโก้) และ electronmicroscope ฟิลด์ปล่อยก๊าซเรือนกระจกสแกน (FESEM, JSM-7000 F, JEOL) คุณสมบัติเป็นฉนวนที่ถูกตรวจสอบโดยใช้การวิเคราะห์ความแม่นยำ Impe เต้นรำ (4294A, Agilent)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างของ batio3 ภาพยนตร์ถูกตรวจสอบโดยเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( D / max-2400 rigaku , ) ทองแดง กะ รังสี ลักษณะพื้นผิวความหยาบ จะวัดด้วยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM , ไดเม็นชั่น 3000 VEECO ) และเขตข้อมูลการสแกน electronmicroscope ( fesem jsm-7000 , F , จอล ) สมบัติไดอิเล็กทริกได้โดยใช้ Precision IMPE เต้น ( 4294a Agilent วิเคราะห์ , )