Process control has been used in chemical industry for a long
time in order to control the reaction kinetics and thus the
properties of the resulting products [1,2]. For many years, such
systems have also been employed for the monitoring of batch,
solution, or emulsion polymerization reactions [3–7] as well as for
the control of thermal curing processes [8,9]. In contrast, only a few
attempts have been made so far to monitor photochemically
induced curing reactions [10–13], although UV polymerization of
thin polymer coatings has become a rapidly growing technology
with a wide range of applications such as scratch and abrasion
resistant coatings, barrier layers, protective coatings, etc. [14].
In UV curing technology, functional coatings are usually made
of mixtures of acrylates. The properties of the coatings do not only
depend on the composition of the formulation, but also on the
thickness of the applied layer. The thickness, in turn, is affected by
several parameters such as viscosity, temperature, and web speed.
This way, unintended fluctuations of the thickness can occur in
technical coating processes. For this reason, the determination of
the coating thickness is a very important issue in coating
technology. Moreover, if the coating thickness is monitored in
the process, it can be made sure that the thickness does not exceed
a given maximum value which leads to a more economic use of the
raw materials. On the other hand, the thickness must not fall below
a specific minimum, because the properties of the coating and
consequently the quality of the product depend on the layer
thickness.
However, up to now there is no analytical method which allows
for a contact-free monitoring of the thickness of the applied
acrylate layer in a continuous coating process. Most of the existing
analytical methods, e.g. gravimetry, white-light interferometry,
ellipsometry, optical or scanning electron microscopy (SEM) etc.,
are only suited for the off-line determination of the layer thickness
in the laboratory.
For example, white-light interferometry is a powerful analytical
method which has been used for at least one decade to determine
the thicknesses of thin transparent dielectric coatings [15,16] or
dispersive media [17]. The thickness of the sample is calculated
from the specific interference pattern caused by interfering light
beams, which were reflected from the surface of the coating and
the substrate, respectively. However, the method requires two
significantly different refractive indices of coating and substrate,
which limits the range of applications of this method. The
refractive index of most polymers is around 1.5, i.e. the indices
of typical UV-curable acrylate coatings and the polymer films used
as substrates often differ only marginally. Moreover, the interference
pattern of a moving web with a non-uniform coating can
change very rapidly, which may impede or even prevent
quantitative analysis. Ultimately, this may lead to destructive
interference. Consequently, white-light interferometry is not a
suitable method for the in-line determination of the layer
thickness of UV-curable acrylic clear coats on transparent polymer
foils.
มีการใช้ในอุตสาหกรรมเคมีการควบคุมกระบวนการระยะยาวเวลาเพื่อควบคุมจลนพลศาสตร์ปฏิกิริยา และทำการคุณสมบัติของผลิตภัณฑ์เกิดขึ้น [1, 2] หลายปี เช่นระบบยังมีการว่าจ้างสำหรับการตรวจสอบของชุดโซลูชั่น หรืออิมัลชัน polymerization ปฏิกิริยา [3-7] รวมทั้งเป็นการการควบคุมกระบวนการบ่มผิวความร้อน [8,9] ในทางตรงข้าม เพียงไม่กี่ได้ทำความพยายามเพื่อให้ห่างไกลการตรวจสอบ photochemicallyเกิดบ่มปฏิกิริยา [10-13], แม้ว่า UV polymerization ของพอลิเมอร์บาง ๆ เคลือบได้กลายเป็น เทคโนโลยีที่เติบโตอย่างรวดเร็วกับโปรแกรมประยุกต์เช่นรอยขีดข่วนและรอยขีดข่วนเคลือบทน ชั้นกั้น เคลือบป้องกัน ฯลฯ [14]ในยูวีเทคโนโลยี งานเคลือบมักจะของผสม acrylates คุณสมบัติของไม้แปรรูปทำไม่ขึ้นอยู่กับองค์ประกอบของกำหนด แต่ในการความหนาของชั้นใช้ ความหนา จะ ได้รับผลกระทบโดยพารามิเตอร์หลายอย่างเช่นความหนืด อุณหภูมิ และความเร็วของเว็บด้วยวิธีนี้ ตั้งใจความผันผวนของความหนาที่สามารถเกิดขึ้นในเคลือบด้านเทคนิคกระบวนการ ด้วยเหตุนี้ การกำหนดความหนาที่เป็นปัญหาสำคัญมากในการเคลือบเทคโนโลยี นอกจากนี้ ถ้ามีการตรวจสอบความหนาในกระบวนการ จะแน่ใจว่า ความหนาไม่เกินค่าสูงสุดที่กำหนดซึ่งนำไปใช้มากขึ้นเศรษฐกิจของการดิบ บนมืออื่น ๆ ความหนาต้องไม่ลดลงต่ำกว่าขั้นต่ำเฉพาะ เนื่องจากคุณสมบัติของเคลือบ และดังนั้น คุณภาพของผลิตภัณฑ์ขึ้นอยู่กับชั้นความหนาอย่างไรก็ตาม ถึงตอนนี้ มีไม่มีวิธีวิเคราะห์ที่สำหรับการติดต่อฟรีตรวจสอบความหนาของการใช้ชั้น acrylate ในกระบวนการเคลือบอย่างต่อเนื่อง ส่วนใหญ่ที่มีอยู่วิธีวิเคราะห์ เช่น gravimetry, interferometry แสงสีขาวellipsometry การสแกน หรือแสงอิเล็กตรอน microscopy (SEM) ฯลฯ .,เหมาะเฉพาะสำหรับการกำหนดความหนาของชั้นที่ออฟไลน์ในห้องปฏิบัติการตัวอย่าง interferometry แสงสีขาวจะมีประสิทธิภาพวิเคราะห์วิธีที่ใช้สำหรับอย่างน้อยหนึ่งทศวรรษเพื่อกำหนดความหนาของเคลือบเป็นฉนวนบางโปร่งใส [15,16] หรือdispersive สื่อ [17] คำนวณความหนาของตัวอย่างจากรูปแบบรบกวนระบุที่เกิดจากแสงรบกวนคาน ซึ่งถูกสะท้อนจากพื้นผิวของเคลือบ และพื้นผิว ตามลำดับ อย่างไรก็ตาม วิธีการต้องสองอย่างมีนัยสำคัญแตกต่างกัน refractive ดัชนีของเคลือบพื้นผิวซึ่งจำกัดช่วงของโปรแกรมประยุกต์ของวิธีการนี้ ที่ดรรชนีหักเหของโพลิเมอร์ส่วนใหญ่จะประมาณ 1.5 เช่นดัชนีUV รักษาทั่วไปเคลือบ acrylate และฟิล์มพอลิเมอร์ที่ใช้เป็นพื้นผิวมักจะแตกต่างเฉพาะดี นอกจากนี้ รบกวนรูปแบบของเว็บย้ายด้วยสามารถเคลือบไม่สม่ำเสมอเปลี่ยนแปลงอย่างรวดเร็ว ซึ่งอาจเป็นอุปสรรค หรือแม้แต่ป้องกันการวิเคราะห์เชิงปริมาณ ที่สุด นี้อาจนำไปสู่การทำลายรบกวน ดังนั้น interferometry แสงขาวจะไม่มีวิธีที่เหมาะสมสำหรับการกำหนดในบรรทัดของชั้นความหนาของอะครีลิค UV รักษาล้างเสื้อในพอลิเมอร์โปร่งแสงน้ำ
การแปล กรุณารอสักครู่..

Process control has been used in chemical industry for a long
time in order to control the reaction kinetics and thus the
properties of the resulting products [1,2]. For many years, such
systems have also been employed for the monitoring of batch,
solution, or emulsion polymerization reactions [3–7] as well as for
the control of thermal curing processes [8,9]. In contrast, only a few
attempts have been made so far to monitor photochemically
induced curing reactions [10–13], although UV polymerization of
thin polymer coatings has become a rapidly growing technology
with a wide range of applications such as scratch and abrasion
resistant coatings, barrier layers, protective coatings, etc. [14].
In UV curing technology, functional coatings are usually made
of mixtures of acrylates. The properties of the coatings do not only
depend on the composition of the formulation, but also on the
thickness of the applied layer. The thickness, in turn, is affected by
several parameters such as viscosity, temperature, and web speed.
This way, unintended fluctuations of the thickness can occur in
technical coating processes. For this reason, the determination of
the coating thickness is a very important issue in coating
technology. Moreover, if the coating thickness is monitored in
the process, it can be made sure that the thickness does not exceed
a given maximum value which leads to a more economic use of the
raw materials. On the other hand, the thickness must not fall below
a specific minimum, because the properties of the coating and
consequently the quality of the product depend on the layer
thickness.
However, up to now there is no analytical method which allows
for a contact-free monitoring of the thickness of the applied
acrylate layer in a continuous coating process. Most of the existing
analytical methods, e.g. gravimetry, white-light interferometry,
ellipsometry, optical or scanning electron microscopy (SEM) etc.,
are only suited for the off-line determination of the layer thickness
in the laboratory.
For example, white-light interferometry is a powerful analytical
method which has been used for at least one decade to determine
the thicknesses of thin transparent dielectric coatings [15,16] or
dispersive media [17]. The thickness of the sample is calculated
from the specific interference pattern caused by interfering light
beams, which were reflected from the surface of the coating and
the substrate, respectively. However, the method requires two
significantly different refractive indices of coating and substrate,
which limits the range of applications of this method. The
refractive index of most polymers is around 1.5, i.e. the indices
of typical UV-curable acrylate coatings and the polymer films used
as substrates often differ only marginally. Moreover, the interference
pattern of a moving web with a non-uniform coating can
change very rapidly, which may impede or even prevent
quantitative analysis. Ultimately, this may lead to destructive
interference. Consequently, white-light interferometry is not a
suitable method for the in-line determination of the layer
thickness of UV-curable acrylic clear coats on transparent polymer
foils.
การแปล กรุณารอสักครู่..

การควบคุมกระบวนการได้ถูกใช้ในอุตสาหกรรมเคมีเป็นเวลานาน
เวลาเพื่อที่จะควบคุมปฏิกิริยาจลนพลศาสตร์และดังนั้น
คุณสมบัติของเป็นผลผลิตภัณฑ์ [ 1 , 2 ] หลายปี เช่น
ระบบยังได้รับใช้ในการตรวจสอบชุด
โซลูชันหรืออิมัลชันพอลิเมอไรเซชันปฏิกิริยา [ 3 – 7 ] เช่นเดียวกับการควบคุมความร้อนของกระบวนการบ่ม
[ 8,9 ] ในทางตรงกันข้าม , เพียงไม่กี่
ความพยายามได้รับการทำเพื่อให้ห่างไกลในการตรวจสอบ photochemically
ชักนำบ่มปฏิกิริยา [ 10 – 13 ] ถึงแม้บางพอลิเมอร์เคลือบ UV แบบ
ได้กลายเป็น เติบโตอย่างรวดเร็วเทคโนโลยีที่มีช่วงกว้างของการใช้งาน เช่น รอยขีดข่วนและรอยขูดต้านทาน
เคลือบกั้นชั้นเคลือบป้องกัน ฯลฯ . [ 14 ] .
ใน UV บ่ม เทคโนโลยีการเคลือบการทำงานโดยปกติ
ส่วนผสมของคริเลต . คุณสมบัติของผิวเคลือบไม่เพียง
ขึ้นอยู่กับองค์ประกอบของการกำหนด แต่ยังเกี่ยวกับ
ความหนาของประยุกต์ชั้น ความหนาในการเปิดจะได้รับผลกระทบโดย
หลายพารามิเตอร์ เช่น มีความหนืด อุณหภูมิ และความเร็วเว็บ .
วิธีนี้ไม่ได้ตั้งใจความผันผวนของความหนาสามารถเกิดขึ้นได้ใน
กระบวนการเคลือบด้าน ด้วยเหตุนี้ การกำหนด
ความหนาผิวเคลือบที่เป็นปัญหาสำคัญในการเคลือบ
เทคโนโลยี นอกจากนี้ ถ้าความหนาการเคลือบการ
กระบวนการ มันสามารถทำให้ความหนาไม่เกิน
ได้รับมูลค่าสูงสุดซึ่งนำไปสู่การใช้เศรษฐกิจเพิ่มเติมของ
วัตถุดิบ บนมืออื่น ๆที่ความหนาไม่ต้องอยู่ด้านล่าง
น้อยเฉพาะ เพราะคุณสมบัติของสารเคลือบผิวและ
ดังนั้นคุณภาพของผลิตภัณฑ์ขึ้นอยู่กับความหนาของชั้น
.
แต่ถึงตอนนี้ไม่มีวิธีการวิเคราะห์ที่ช่วยให้
สำหรับติดต่อตรวจสอบความหนาของชั้นใช้
อะคริเลตในกระบวนการเคลือบแบบต่อเนื่อง ที่สุดของที่มีอยู่
วิธีการวิเคราะห์ เช่น การสนับสนุนโปรแกรมประยุกต์บนเว็บ , , แสงสีขาว
ลิปโซมิตรีแสงและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ฯลฯ
เป็นเพียงเหมาะสำหรับการกำหนดแบบของความหนาของชั้น
ในห้องปฏิบัติการ เช่น การสนับสนุนแสงสีขาวที่มีประสิทธิภาพวิเคราะห์
วิธีที่ถูกใช้สำหรับอย่างน้อยหนึ่งทศวรรษเพื่อตรวจสอบความหนาของฉนวนบางใส
[ ]
15,16 เคลือบหรือสื่อกระจายตัว [ 17 ] ความหนาของตัวอย่างคำนวณ
จากรูปแบบเฉพาะการรบกวนที่เกิดจากลำแสง
รบกวน ซึ่งสะท้อนจากพื้นผิวของผิวและ
พื้นผิว ตามลำดับ อย่างไรก็ตาม วิธีการต้องใช้ดัชนีแตกต่างกันสอง
สายตาของเคลือบและสารตั้งต้น
ที่จำกัดช่วงการใช้งานของวิธีการนี้
ดัชนีหักเหของพอลิเมอร์ส่วนใหญ่ คือ ประมาณ 1.5 โดยดัชนี
โดยทั่วไปรังสี UV curable เคลือบโพลิเมอร์อะคริเลตและใช้ฟิล์ม
เป็นพื้นผิวมักจะแตกต่างเพียงเล็กน้อย . นอกจากนี้ รบกวน
รูปแบบของย้ายเว็บด้วยพื้นผิวเคลือบสามารถ
เปลี่ยนแปลงอย่างรวดเร็วซึ่งอาจขัดขวางหรือจะขัดขวาง
การวิเคราะห์เชิงปริมาณ ในที่สุด , นี้อาจนำไปสู่การทำลาย
รบกวน จากนั้นแสงสีขาวก็ไม่ใช่
อินเตอร์เฟอโรเมทรีวิธีที่เหมาะสมสำหรับในการหาความหนาของชั้น
UV curable อะครีลิคใสเคลือบบนฟอยล์พอลิเมอร์
โปร่งใส
การแปล กรุณารอสักครู่..
