standardized to a linear interpolat

standardized to a linear interpolation of frequent SF6 reference gas
peaks (Supplemental Fig. 1). In later analyses, we eliminated this
drift by isolating the sample gas heating system from the GC oven.
In this system, the Ar flow was preheated to a constant 320C outside
the GC oven before entering the upstream end of the transfer
line to the plasma torch. An additional heating tape was also added
at the ground glass connection between the transfer line and the
injector torch to improve the transfer of higher-boiling-point analytes
into the plasma. With these modifications, good peak shape
was obtained for compounds eluting at oven temperatures of up
to 300 C, permitting sulfur isotopic analysis of a wider range of
GC-amenable compounds. Because d34S values for SF6 drifted by
< 1‰ across the GC temperature program under these conditions,
drift correction was no longer necessary and standard peaks were
not required in the midst of the GC oven temperature program,
thus avoiding potential interference between standard and analyte
p

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสอดแทรกเชิงเส้นของบ่อยใช้ก๊าซ sf6 เป็นข้อมูลอ้างอิงมาตรฐานยอด (เพิ่มเติม Fig. 1) ในการวิเคราะห์ในภายหลัง เราตัดนี้ดริฟท์ โดยแยกก๊าซตัวอย่างระบบจาก GC เตาทำความร้อนในระบบนี้ กระแส Ar ได้ต่ำถึงค่าคง C 320 นอกเตาอบ GC ก่อนป้อนตามขั้นต้นน้ำของการโอนย้ายบรรทัดการคบเพลิงพลาสมา เทปมีความร้อนเพิ่มเติมถูกเพิ่มในแก้วดินเชื่อมต่อระหว่างบรรทัดการโอนย้ายและไฟฉายหัวฉีดเพื่อเพิ่มการโอนย้ายของ analytes สูงเดือดจุดในพลาสมา มีการปรับเปลี่ยนเหล่านี้ รูปร่างดีสูงสุดกล่าวสำหรับสารประกอบ eluting ที่อุณหภูมิเตาอบของค่าถึง 300 C อนุญาตให้กำมะถัน isotopic วิเคราะห์มากขึ้นสาร GC amenable เนื่องจากค่า d34S สำหรับ SF6 ลอยด้วย< 1‰ ข้ามโปรแกรมอุณหภูมิ GC ภายใต้เงื่อนไขเหล่านี้ดริฟท์การแก้ไขนั้นไม่จำเป็น และมีมาตรฐานพีคส์ไม่จำเป็นต้องกลางโปรแกรมอุณหภูมิเตาอบ GCจึง หลีกเลี่ยงสัญญาณรบกวนอาจเกิดขึ้นระหว่าง analyte และมาตรฐานp

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มาตรฐานที่จะสอดแทรกเชิงเส้นของก๊าซ SF6
อ้างอิงบ่อยยอด(เพิ่มเติมรูปที่ 1).
ในการวิเคราะห์ต่อมาเราตัดออกนี้ดริฟท์โดยการแยกระบบความร้อนก๊าซตัวอย่างจากเตาอบประชาคมโลก.
ในระบบนี้การไหลเท่ถูกอุ่นให้กับ 320C
คงนอกเตาอบGC
ก่อนที่จะเข้าปลายต้นน้ำของการถ่ายโอนสายไฟฉายพลาสม่า. เทปความร้อนที่เพิ่มขึ้นนอกจากนี้ยังได้รับการเพิ่มที่พื้นดินเชื่อมต่อระหว่างสายแก้วโอนและไฟฉายหัวฉีดในการปรับปรุงการโอนวิเคราะห์สูงกว่าจุดเดือดจุดลงในพลาสม่า เหล่านี้มีการปรับเปลี่ยนรูปทรงที่ดีสูงสุดที่ได้รับสารเคลือบเตาอบที่อุณหภูมิสูงถึง300 องศาเซลเซียสอนุญาตวิเคราะห์ไอโซโทปกำมะถันช่วงกว้างของสารประกอบGC-คล้อยตาม เพราะค่า d34S สำหรับ SF6 ลอยโดย<1 ‰ทั่วโปรแกรมอุณหภูมิ GC ภายใต้เงื่อนไขเหล่านี้แก้ไขดริฟท์ก็ไม่จำเป็นอีกต่อไปและยอดมาตรฐานไม่จำเป็นต้องอยู่ในท่ามกลางของเตาอบGC โปรแกรมอุณหภูมิจึงหลีกเลี่ยงสัญญาณรบกวนที่อาจเกิดขึ้นระหว่างมาตรฐานและวิเคราะห์พี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มาตรฐานการสอดแทรกเชิงเส้นของก๊าซ SF6 อ้างอิงยอดบ่อย
( เพิ่มเติมรูปที่ 1 ) ในการวิเคราะห์ในภายหลัง เราตกรอบดริฟท์นี้
โดยแยกตัวอย่างร้อนระบบแก๊สเตาอบจาก GC .
ในระบบนี้ คือ การตั้งให้คงที่ AR 320 นอก
GC เตาอบก่อนเข้าสู่ปลายต้นน้ำของการถ่ายโอน
บรรทัดพลาสมาไฟฉายเป็นเทปความร้อนเพิ่มเติมถูกเพิ่ม
ที่พื้นกระจกที่เชื่อมต่อระหว่างการโอนสายและหัวไฟฉาย
เพื่อปรับปรุงการโอนสูงกว่าจุดเดือดสาร
ในพลาสมา กับการปรับเปลี่ยนเหล่านี้ดียอดรูปร่าง
ได้สำหรับสาร hexane ที่เตาอบอุณหภูมิขึ้น
300 C อนุญาตการวิเคราะห์ซัลเฟอร์ไอโซโทปของช่วงกว้างของ
GC ซูฮกสารประกอบเพราะค่า d34s สำหรับ SF6 ลอย
< 1 ‰ข้ามโปรแกรม GC อุณหภูมิภายใต้เงื่อนไขเหล่านี้
แก้ไขลอยคือไม่มีความจำเป็นและมาตรฐานยอดถูก
ไม่ต้องอยู่ใน GC เตาอบอุณหภูมิโปรแกรม
จึงหลีกเลี่ยงการรบกวนที่อาจเกิดขึ้นระหว่างมาตรฐานและครู
p