2.6. SEM analysisThe morphological

2.6. SEM analysis
The morphological changes in Rhizobium leguminosarum bv. viciae
3841 were imaged using scanning electron microscopy, SEM (Wood
et al., 1989). The detailed procedures have been reported previously
(Fan et al., 2014). Briefly, the samples were transferred into a CO2
critical-point drier and the silicon wafers were placed onto SEM stubs,
which was sputter coated with Au/Pd using a Denton Vacuum Bench
Top Turbo III sputter coater. All samples were visualized and imaged
with a Hitachi S-4700 field-emission SEM.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.6 การวิเคราะห์ SEM
เปลี่ยนแปลงของไรโซเบียม leguminosarum bv viciae
3841 ถูก imaged ใช้แกนอิเล็กตรอน microscopy, SEM (ไม้
et al., 1989) ขั้นตอนโดยละเอียดมีรายงานก่อนหน้านี้
(พัดลมร้อยเอ็ด al., 2014) สั้น ๆ ตัวอย่างได้ถูกโอนย้ายไปเป็น CO2
สำคัญจุด drier และซิลิคอนรับถูกวางลงบนสตับ SEM,
ที่ถูกเคลือบ ด้วย Au/Pd Denton ดูดม้าใช้ sputter
III Turbo ด้าน sputter coater ตัวอย่างทั้งหมดมี visualized และ imaged
กับ SEM. ฟิลด์มลพิษเป็นฮิตาชิ S-4700

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.6 SEM การวิเคราะห์
การเปลี่ยนแปลงทางสัณฐานวิทยาในไรโซเบียม leguminosarum bv viciae
3841 ถูกถ่ายภาพโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (ไม้
et al., 1989) ขั้นตอนอย่างละเอียดได้รับการรายงานก่อนหน้านี้
(พัดลม et al., 2014) สั้น ๆ ตัวอย่างที่ได้รับการย้ายไป CO2
แห้งที่สำคัญจุดและเวเฟอร์ซิลิกอนที่ถูกวางลงบนต้นขั้ว SEM,
ซึ่งได้รับการเคลือบพ่นด้วย Au / Pd ใช้เด็นทันดูดม้านั่ง
บนเทอร์โบ III พ่น coater ตัวอย่างทั้งหมดถูกมองเห็นและถ่ายภาพ
กับฮิตาชิ S-4700 สนามปล่อย SEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.6 การวิเคราะห์การเปลี่ยนแปลงทางสัณฐานวิทยาใน SEM
ลุก leguminosarum BV viciae
3841 มีภาพลักษณ์ของการใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด SEM ( ไม้
et al . , 1989 ) ขั้นตอนรายละเอียดได้รายงานก่อนหน้านี้
( พัดลม et al . , 2010 ) สั้นจำนวนโอนเป็น CO2
จุดวิกฤติแห้งและซิลิกอนเวเฟอร์ถูกวางไว้บน SEM ตอ
,ซึ่งถูกพ่นออกเคลือบด้วย AU / PD โดยใช้ Denton สูญญากาศม้านั่ง
ด้านบนเทอร์โบ 3 ละล่ำละลักเครื่องเคลือบ ตัวอย่างและภาพอื่นๆด้วยด้านการจัดเก็บ s-4700
SEM