The crystallite sizes in the nc-Si layer in a multilayered, silicon thin film, calculated with a deconvolution of the Raman LO–TO mode, showed excellent agreement with the average crystallite sizes determined from the size distributions of smaller crystallites obtained directly fromHRTEM images. The small discrepanciescan beexplained by the spherical approximation of the crystallites that is used in the calculation for the crystallite size from the Raman results and due to difficultiesinmeasuringthelargercrystallitesintheHRTEMimagesdue to overlapping. The fraction of small crystallites estimated from the integratedareaoftheTOmodeforsmallandlargecrystallitesissmaller thanthatobservedusingHRTEMduetothedifferentdetectionlimitsof both methods for a structural analysis. The measured energy distribution of the absorption coefficient can be approximated by the superpositionoftheabsorptionintheamorphouslayerandinthecrystalline layer, and is correlated to the crystallite fraction. Larger nanocrystals haveα(E)similartoc-Siandcontributetoanincreaseintheabsorption of the pure amorphous layer in the low-energy region of the spectrum (1.2–1.7eV).Smallnanocrystals,withsizesofapproximately2nm,have a much larger optical gap than c-Si, an indirect optical transition for electrons and thus an enhanced absorption at high energies (above 2.2 eV). These observations confirm the possibilities of tailoring the opticalpropertiesofnanocrystallinethin filmsformulti-layer,solar-cell structures.
ขนาดผลึกในชั้น NC-Si ในพหุบางซิลิคอน LM fi, การคำนวณกับ deconvolution ของโหมดรามัน LO-ไปยังแสดงให้เห็นว่าข้อตกลงที่ยอดเยี่ยมด้วยขนาดผลึกเฉลี่ยคำนวณจากการกระจายขนาดของ crystallites ขนาดเล็กที่ได้รับภาพ fromHRTEM โดยตรง ขนาดเล็ก discrepanciescan beexplained โดยประมาณทรงกลมของ crystallites ที่ใช้ในการคำนวณสำหรับขนาดผลึกจากผลรามันและเนื่องจาก cultiesinmeasuringthelargercrystallitesintheHRTEMimagesdue Fi DIF จะทับซ้อนกัน เศษของ crystallites ขนาดเล็กประมาณจาก integratedareaoftheTOmodeforsmallandlargecrystallitesissmaller thanthatobservedusingHRTEMduetothedifferentdetectionlimitsof ทั้งสองวิธีสำหรับการวิเคราะห์โครงสร้าง การกระจายพลังงานของวัดประสิทธิภาพการดูดซึม COEF Fi สามารถประมาณโดยชั้น superpositionoftheabsorptionintheamorphouslayerandinthecrystalline และมีความสัมพันธ์กับส่วนผลึก นาโนคริสตัลขนาดใหญ่haveα (E) similartoc-Siandcontributetoanincreaseintheabsorption ของชั้นสัณฐานบริสุทธิ์ในภูมิภาคพลังงานต่ำของสเปกตรัม (1.2-1.7eV) .Smallnanocrystals, withsizesofapproximately2nm มีช่องว่างแสงมีขนาดใหญ่กว่า C-Si, การเปลี่ยนแปลงแสงทางอ้อม อิเล็กตรอนและทำให้ดูดซึมเพิ่มพลังงานที่สูง (สูงกว่า 2.2 eV) ข้อสังเกตเหล่านี้ Con Fi RM เป็นไปได้ของการตัดเย็บ opticalpropertiesofnanocrystallinethin Fi lmsformulti ชั้นโครงสร้างพลังงานแสงอาทิตย์เซลล์ นาโนคริสตัลขนาดใหญ่haveα (E) similartoc-Siandcontributetoanincreaseintheabsorption ของชั้นสัณฐานบริสุทธิ์ในภูมิภาคพลังงานต่ำของสเปกตรัม (1.2-1.7eV) .Smallnanocrystals, withsizesofapproximately2nm มีช่องว่างแสงมีขนาดใหญ่กว่า C-Si, การเปลี่ยนแปลงแสงทางอ้อม อิเล็กตรอนและทำให้ดูดซึมเพิ่มพลังงานที่สูง (สูงกว่า 2.2 eV) ข้อสังเกตเหล่านี้ Con Fi RM เป็นไปได้ของการตัดเย็บ opticalpropertiesofnanocrystallinethin Fi lmsformulti ชั้นโครงสร้างพลังงานแสงอาทิตย์เซลล์ นาโนคริสตัลขนาดใหญ่haveα (E) similartoc-Siandcontributetoanincreaseintheabsorption ของชั้นสัณฐานบริสุทธิ์ในภูมิภาคพลังงานต่ำของสเปกตรัม (1.2-1.7eV) .Smallnanocrystals, withsizesofapproximately2nm มีช่องว่างแสงมีขนาดใหญ่กว่า C-Si, การเปลี่ยนแปลงแสงทางอ้อม อิเล็กตรอนและทำให้ดูดซึมเพิ่มพลังงานที่สูง (สูงกว่า 2.2 eV) ข้อสังเกตเหล่านี้ Con Fi RM เป็นไปได้ของการตัดเย็บ opticalpropertiesofnanocrystallinethin Fi lmsformulti ชั้นโครงสร้างพลังงานแสงอาทิตย์เซลล์
การแปล กรุณารอสักครู่..
