The scanning tunneling microscope (

The scanning tunneling microscope (STM) is among a number of instruments that allows scientists to view and manipulate nanoscale particles, atoms, and small molecules. Its development earned its inventors, Gerd Binig and Heinrich Rohrer, the Nobel Prize in Physics in 1986.

Atomic force microscopes (AFMs) gather information by "feeling" the surface with a mechanical probe. Gerd Binig, along with Calvin Quate and Christoph Gerber, developed the first AFM in 1986.

Atomic force microscope
Atomic Force Microscope

These microscopes make use of tiny but exact movements to enable precise mechanical scanning.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กล้องจุลทรรศน์ลแบบ tunneling แกน (อิ) เป็นหนึ่งในจำนวนเครื่องมือที่ช่วยให้นักวิทยาศาสตร์สามารถดู และจัดการ nanoscale อนุภาค อะตอม และโมเลกุลขนาดเล็ก การพัฒนาได้เป็นนักประดิษฐ์ Binig กรดไหลย้อนและไฮน์ริช Rohrer รางวัลโนเบลในสาขาฟิสิกส์ในปี 1986กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFMs) รวบรวมข้อมูลด้วย "ความรู้สึก" ผิว ด้วยโพรบเครื่องจักรกล Binig กรดไหลย้อน คาลวิน Quate และ Christoph Gerber พัฒนา AFM ครั้งแรกในปี 1986กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมคิตเหล่านี้ทำให้ใช้ขนาดเล็กแต่แน่นอนความเคลื่อนไหวของการเปิดใช้งานการสแกนกลแม่นยำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อุโมงค์สแกน (STM) เป็นหนึ่งในจำนวนของเครื่องมือที่ช่วยให้นักวิทยาศาสตร์สามารถดูและจัดการกับอนุภาคระดับนาโนอะตอมและโมเลกุลขนาดเล็ก ได้รับการพัฒนาของนักประดิษฐ์ของเกอร์ Binig และเฮ็น Rohrer, รางวัลโนเบลสาขาฟิสิกส์ในปี 1986. กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFMS) รวบรวมข้อมูลโดย "ความรู้สึก" พื้นผิวที่มีการสอบสวนทางกล Gerd Binig พร้อมกับคาลวินเพียงพอและคริสโตเกอร์เบอร์ได้รับการพัฒนาเป็นครั้งแรกในปี 1986 AFM. ปรมาณูแรงกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมกล้องจุลทรรศน์กล้องจุลทรรศน์เหล่านี้ทำให้การใช้งานของการเคลื่อนไหวเล็ก ๆ แต่ที่แน่นอนเพื่อเปิดใช้งานสแกนกลที่แม่นยำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสแกนกล้องจุลทรรศน์ tunneling ( STM ) อยู่ระหว่างหมายเลขของเครื่องมือที่ช่วยให้นักวิทยาศาสตร์สามารถดูและจัดการกับอนุภาคนาโนสเกล อะตอม และโมเลกุลขนาดเล็ก การพัฒนารายได้ของนักประดิษฐ์และโรคกรดไหลย้อน binig ไฮน์ริช รอเรอร์ , ผู้ได้รับรางวัลโนเบลสาขาฟิสิกส์ในปี 1986

( afms กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ) รวบรวมข้อมูลจาก " ความรู้สึก " พื้นผิวด้วยเครื่องกล binig เกิร์ด ,พร้อมกับเคลวินและ quate คริสตอฟ Gerber , พัฒนา AFM ครั้งแรกในปี 1986

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม

เหล่านี้กล้องจุลทรรศน์ให้ใช้เล็ก ๆแต่แน่นอน การเคลื่อนไหวเพื่อให้แม่นยำเครื่องจักรกล การสแกน