Scanning electron microscopic (SEM)

Scanning electron microscopic (SEM) analysis of the cryo-fractured surfaces of the rubber compounds
showed more rough and tortuous pathway of the fractured surfaces compared to the fractured
surfaces of the only CB loaded rubber composites.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนอิเล็กตรอนวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์ (SEM) ของพื้นผิวการ cryo fractured ของสารประกอบยางแสดงให้เห็นว่าทางเดินขรุขระมาก และเงี้ยวของพื้นผิว fractured เมื่อเทียบกับที่ fracturedพื้นผิวของ CB เท่านั้นโหลดยางคอมโพสิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)
การวิเคราะห์พื้นผิวแช่-ร้าวของสารประกอบยางแสดงให้เห็นมากขึ้นทางเดินหยาบและคดเคี้ยวของพื้นผิวร้าวเมื่อเทียบกับร้าวพื้นผิวของ
CB เพียงโหลดคอมโพสิตยาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน ( SEM ) การวิเคราะห์กระดูกแช่แข็ง พื้นผิวของสารประกอบยาง
พบหยาบมากขึ้นและซับซ้อนทางเดินของพื้นผิวแตกหัก
เมื่อเทียบกับพื้นผิวของ CB เท่านั้นโหลด คอมโพสิต ยาง