The mass attenuation coefficient (l

The mass attenuation coefficient (l/q), effective atomic number (Zeff), effective electron density (Ne,eff) and half-value layer (HVL) of xRmOn:(1 x)SiO2 glass system (where RmOn are Bi2O3, PbO and BaO, with 0.3 6 x 6 0.7 is fraction by weight) have been calculated by theoretical approach using WinXCom program in the energy region from 1 keV to 100 GeV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัมประสิทธิ์การลดทอนขนาดใหญ่ (l/q), เลขอะตอมมีประสิทธิภาพ (Zeff), ความหนาแน่นของอิเล็กตรอนที่มีประสิทธิภาพ (Ne, eff) และชั้นครึ่งค่า (HVL) ของ xRmOn:(1 x) SiO2 แก้วระบบ (ที่ RmOn มี Bi2O3, PbO และเบ้า 6 0.3 x 6 0.7 เป็นเศษส่วน โดยน้ำหนัก) มีการคำนวณ โดยวิธีทฤษฎีโดยใช้โปรแกรม WinXCom ในภาคพลังงาน 1 keV 100 GeV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัมประสิทธิ์ (ลิตร / q) เลขอะตอมที่มีประสิทธิภาพ (Zeff) ความหนาแน่นของอิเล็กตรอนที่มีประสิทธิภาพ (Ne, เอฟเอฟ) และชั้นครึ่งมูลค่า (HVL) ของ xRmOn: (1 x) ระบบแก้ว SiO2 (ที่ RMON เป็น Bi2O3, PbO และเบ้ากับ 0.3 6 x 6 0.7 เป็นส่วนโดยน้ำหนัก) ได้รับการคำนวณโดยวิธีการประเมินโดย WinXCom โปรแกรมในภูมิภาคพลังงานจาก 1 keV ถึง 100 GeV

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มวลค่าสัมประสิทธิ์การลดทอน ( L / q ) ที่มีเลขอะตอม ( เซฟฟ์ ) ความหนาแน่นของอิเล็กตรอนที่มีประสิทธิภาพ ( NE , เอฟ ) และชั้นครึ่งค่า ( hvl ) ของ xrmon : ( 1 ) ระบบกระจก ( ที่เป็น bi2o3 rmon SiO2 , และสามเปากับ 0.3 0.7 6 x 6 คือเศษส่วนโดยน้ำหนัก ) มี ถูกคำนวณโดยวิธีทางทฤษฎี การใช้โปรแกรม winxcom ในภาคพลังงานจาก 1 ถึง 100 gev เคฟ .