5. Probing the Tomato Cuticle Surfa

5. Probing the Tomato Cuticle Surface with Atomic Force Microscopy (Digital Instruments Nanoscope IIIa; procedures will vary slightly among microscopes)6

Turn on the scanning probe microscope (SPM) (Fig. 2) and make sure that the microscope mode toggle switch is set to the contact Atomic Force Microscopy (AFM) mode.
Manually raise the SPM head by turning its two user-adjustable front knobs. Detach the AFM tipholder from the SPM head by turning the clamping screw at the back of the head.
Use tweezers to remove the existing AFM cantilever from the tipholder, then carefully grab a new silicon nitride cantilever (AFM probe) from its package and install it in place of the old cantilever. Use a light microscope to verify that the newly installed AFM cantilever is not broken.
Attach the tomato cuticle sample (a section of partially dewaxed tomato cuticle ~10 mm x 10 mm) to a stainless steel disk (sample puck) with double-sided tape. Use a light microscope to verify that the cuticle surface remains flat and smooth after placement of the sample on the puck.
Place the puck with the tomato cuticle sample onto the magnetic region at the top of the SPM scanner.
Set the front two manual adjustment screws of the scanner high by turning the knobs; set the motorized back adjustment screw to approximately the same level as the other two front screws. Make sure that all three screws are set high enough to avoid breaking the AFM tip when placing the tipholder into the SPM head.
Reinsert the tipholder into the SPM head and secure it by tightening the clamping screw at the back of the head.
After turning on the laser, align the laser spot on the AFM cantilever using the central (y) and right (x) laser adjustment knobs on the top of the head. Monitor the reflected laser beam on a piece of paper to position the laser spot exactly at the end of the AFM cantilever.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

5. ละเอียดมะเขือเทศผิวหนัง ด้วยไมโครสโคแรงอะตอม (ดิจิตอลเครื่องมือ Nanoscope IIIa ขั้นตอนจะแตกต่างเล็กน้อยระหว่างไมโครสโคป) 6เปิดไมโครสโครบการสแกน (SPM) (รูป 2) และการตรวจสอบให้แน่ใจว่า กล้องจุลทรรศน์โหมดสวิตช์ถูกตั้งค่าเป็นโหมดไมโครสโคแรงอะตอม (ด้าน) ติดต่อด้วยตนเองเพิ่มหัว SPM โดยการปุ่มด้านหน้าของสองผู้ใช้สามารถปรับ ถอด tipholder ด้านจากหัว SPM โดยหมุนสกรูหนีบด้านหลังของศีรษะใช้แหนบเอา cantilever ด้านที่มีอยู่จาก tipholder แล้วอย่างคว้าใหม่ซิลิกอนไนไตรด์ cantilever (ด้านสอบสวน) จากบรรจุภัณฑ์ และติดตั้งแทน cantilever เก่า ใช้กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงเพื่อตรวจสอบว่า cantilever ด้านติดตั้งใหม่ไม่เสียแนบตัวอย่างหนังมะเขือเทศ (ส่วนของมะเขือเทศบางส่วน dewaxed หนัง ~ 10 มม. x 10 มม.) ดิสก์สแตนเลส (ตัวอย่างฮอกกี้) เทปสองด้าน ใช้กล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสงในการตรวจสอบว่า พื้นผิวหนังยังคง เนียนหลังจากจัดวางของอย่างในเด็กซนสถานขึ้นกับตัวอย่างหนังมะเขือเทศลงบนภูมิภาคแม่เหล็กด้านบนของเครื่องสแกนเนอร์ SPMตั้งหน้าสองเองสกรูของเครื่องสแกนเนอร์ที่สูง ด้วยการหมุนปุ่ม ตั้งสกรูปรับกลับทางเพื่อประมาณระดับเดียวสกรูหน้าสองอื่น ๆ ตรวจสอบให้แน่ใจว่า สกรูสามตัวทั้งหมดถูกตั้งค่าสูงพอที่จะหลีกเลี่ยงการตัดปลายด้านเมื่อวาง tipholder ที่ในหัว SPMใส่ tipholder ที่ในหัว SPM และปลอดภัย โดยขันสกรูหนีบด้านหลังของศีรษะหลังจากเปิดเลเซอร์ วางแนวลำแสงเลเซอร์ cantilever ด้านที่ใช้เซ็นทรัล (y) และขวา (x) เลเซอร์ปรับปุ่มด้านบนของหัว ตรวจสอบแสงเลเซอร์สะท้อนบนกระดาษเพื่อวางตำแหน่งลำแสงเลเซอร์ตรงที่ cantilever ด้าน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

5 . การแหย่ มะเขือเทศกําพร้าพื้นผิวด้วยกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( เครื่องมือนาโนสโคปดิจิตอลสามารถ วิธีการจะแตกต่างกันเล็กน้อยระหว่างกล้องจุลทรรศน์ ) 6เปิดกล้องจุลทรรศน์สอบสวน ( SPM ) ( รูปที่ 2 ) และให้แน่ใจว่ากล้องจุลทรรศน์โหมดสวิทช์สลับเป็นชุดติดต่อกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) โหมดด้วยตนเองยกหัว SPM โดยหันสองผู้ใช้ปรับด้านหน้าลูกบิด ถอด AFM tipholder จากหัว SPM ใช้หนีบสกรูที่ด้านหลังของหัวใช้แหนบที่จะลบที่มีอยู่ AFM cantilever จาก tipholder แล้วอย่างคว้าสะพานซิลิคอนไนไตรด์ใหม่ ( AFM สอบสวน ) จากแพคเกจและติดตั้งในสถานที่ของสะพานเก่า ใช้กล้องจุลทรรศน์เพื่อตรวจสอบว่าติดตั้งใหม่ AFM สะพานไม่หักแนบตัวอย่างมะเขือเทศกําพร้า ( ส่วนของบางส่วนของ dewaxed มะเขือเทศกําพร้า ~ 10 มม. x 10 มม. ) กับแผ่นสแตนเลส ( ตัวอย่างพัค ) กับเทปสองหน้า . ใช้กล้องจุลทรรศน์เพื่อตรวจสอบพื้นผิวหนังกำพร้ายังคงแบนและเรียบหลังจากตำแหน่งของตัวอย่างในเด็กซนสถานที่พักมี cuticle มะเขือเทศตัวอย่างบนเขตแม่เหล็กที่ด้านบนของ SPM สแกนเนอร์ชุดหน้าสองคู่มือปรับสกรูของสแกนเนอร์สูงด้วยการเปลี่ยนลูกบิด ; ชุดมอเตอร์กลับปรับสกรูประมาณระดับเดียวกันๆด้านหน้าสองสกรู ให้แน่ใจว่าทั้งหมดสามสกรูตั้งสูงพอที่จะหลีกเลี่ยงการ AFM หัวเมื่อวาง tipholder เข้าหัว SPM .reinsert ที่ tipholder เข้าหัว SPM และปลอดภัย โดยการขันหนีบสกรูที่ด้านหลังของหัวหลังจากเปิดเลเซอร์ จัดจุดเลเซอร์บนสะพาน AFM ใช้ส่วนกลาง ( Y ) และขวา ( x ) เลเซอร์ปรับลูกบิดบนด้านบนของหัว จอภาพสะท้อนลำแสงเลเซอร์บนกระดาษไปยังตำแหน่งจุดเลเซอร์ตรงท้ายของ AFM ทองอังกฤษ .