Phase identification was carried out by X-ray diffraction (XRD) (PANalytical X'Pert
PRO diffractometer, PANalytical Corporation, the Netherlands)
with CuKα radiation. Scanning electron microscope (SEM, XL30,
Philips-FEI, Eindhoven, the Netherlands) and transmission electron
microscope (TEM, JEM-2100 CX, Jeol, Japan) were used for
determination of fiber diameter and examination of microstructure
Phase identification was carried out by X-ray diffraction (XRD) (PANalytical X'PertPRO diffractometer, PANalytical Corporation, the Netherlands)with CuKα radiation. Scanning electron microscope (SEM, XL30,Philips-FEI, Eindhoven, the Netherlands) and transmission electronmicroscope (TEM, JEM-2100 CX, Jeol, Japan) were used fordetermination of fiber diameter and examination of microstructure
การแปล กรุณารอสักครู่..

การระบุขั้นตอนที่ได้ดำเนินการโดย X-ray diffraction (XRD) (PANalytical X'Pert
PRO diffractometer, PANalytical คอร์ปอเรชั่นเนเธอร์แลนด์)
ด้วยการฉายรังสีCuKα กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM, XL30,
ฟิลิปส์-FEI, Eindhoven, เนเธอร์แลนด์)
และการส่งผ่านอิเล็กตรอนไมโครสโคป(TEM, JEM CX-2100, Jeol ญี่ปุ่น)
ถูกนำมาใช้สำหรับการตัดสินใจของเส้นผ่านศูนย์กลางของเส้นใยและตรวจสอบโครงสร้างจุลภาค
การแปล กรุณารอสักครู่..

กำหนดระยะที่กระทำโดยการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ( panalytical x'pert
โปรดิฟแฟรกโทมิเตอร์ panalytical , บริษัท , เนเธอร์แลนด์ )
cuk αด้วยรังสี กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM xl30
Philips , Fei , Eindhoven , เนเธอร์แลนด์ ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( tem กล้องจุลทรรศน์ ,
jem-2100 CX จอล ญี่ปุ่น ) ใช้สำหรับการหาขนาดเส้นผ่านศูนย์กลางของเส้นใยและ
ตรวจสอบโครงสร้างจุลภาค
การแปล กรุณารอสักครู่..
