Paradigms. For embedded devices, po

Paradigms. For embedded devices, power consumption is
an important aspect. Low power paradigms are dealt with
through special power-saving cell constructs or techniques
such as resource sharing. Great care also has to been taken
to provide a method for testing. A scan chain has to be
inserted, which has an impact on the chip density and also
the timing behaviour. After layout, the achievable clock rate
and the power consumption can be determined. A simulation
on the gate level verifies the final design. What becomes clear
is the great amount of work required when a structural error
is found at this level. Then the complete and time intensive
design process has to be rerun.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Paradigms สำหรับอุปกรณ์ฝังตัว การใช้พลังงานเป็นข้อมูลสำคัญด้านการ ลแก้ paradigms พลังงานต่ำโครงสร้างเซลล์ประหยัดพลังงานพิเศษหรือเทคนิคเช่นทรัพยากรใช้ร่วมกัน ดูแลที่ดียังจะถูกนำเพื่อให้วิธีการทดสอบ เชนการสแกนยังต้องแทรก ซึ่งมีผลกระทบในความหนาแน่นชิปและพฤติกรรมกำหนดเวลา หลังจากเค้าโครง อัตรานาฬิกาที่ทำได้และสามารถกำหนดปริมาณการใช้พลังงาน การจำลองบนประตู ระดับตรวจสอบแบบขั้นสุดท้าย อะไรจะชัดเจนมีจำนวนงานที่ต้องใช้เมื่อมีข้อผิดพลาดที่โครงสร้างดีตั้งอยู่ที่ระดับนี้ เร่งรัดของเวลา และสมบูรณ์แล้วกระบวนการออกแบบต้องสามารถรันได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กระบวนทัศน์ สำหรับอุปกรณ์ฝังตัว, การใช้พลังงานเป็น
สิ่งสำคัญ กระบวนทัศน์พลังงานต่ำจะจัดการกับ
ผ่านพิเศษประหยัดพลังงานสร้างเซลล์หรือเทคนิค
เช่นใช้ทรัพยากรร่วมกัน การดูแลที่ดีก็จะต้องถูกนำ
มาเพื่อให้วิธีการสำหรับการทดสอบ ห่วงโซ่การสแกนจะต้องมีการ
แทรกซึ่งมีผลกระทบต่อความหนาแน่นของชิปและ
พฤติกรรมการกำหนดเวลา หลังจากที่รูปแบบอัตรานาฬิกาทำได้
และการใช้พลังงานที่สามารถกำหนด การจำลอง
ในระดับประตูตรวจสอบการออกแบบขั้นสุดท้าย สิ่งที่จะกลายเป็นที่ชัดเจน
เป็นจำนวนเงินที่ดีของการทำงานที่จำเป็นต้องใช้เมื่อเกิดข้อผิดพลาดที่มีโครงสร้าง
ที่พบในระดับนี้ แล้วเสร็จสมบูรณ์และเวลาที่เข้มข้น
ขั้นตอนการออกแบบจะต้องมีการดำเนินการอีกครั้ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กระบวนทัศน์ . สำหรับอุปกรณ์ฝังตัว การบริโภคพลังงาน
กว้างยาวที่สำคัญ พลังงานต่ำก่อนจะจัดการกับ
ผ่านเซลล์รุ่นพิเศษสร้างเทคนิคหรือ
เช่นการแบ่งปันทรัพยากร การดูแลที่ดีก็จะถูกถ่าย
เพื่อให้วิธีการสำหรับการทดสอบ สแกนโซ่ต้อง
แทรก ซึ่งมีผลกระทบต่อชิป ความหนาแน่นและ
เวลาพฤติกรรม หลังจากจัดหน้าอัตรานาฬิกาได้
และการใช้พลังงานได้ จำลอง
ในระดับประตูตรวจสอบการออกแบบขั้นสุดท้าย สิ่งที่กลายเป็นชัดเจน
เป็นจำนวนมากของการทำงานที่จำเป็นเมื่อเกิดข้อผิดพลาดทางโครงสร้าง
พบที่ระดับนี้ แล้วเวลาที่สมบูรณ์และเข้มข้น
การออกแบบกระบวนการต้องเริ่มใหม่ .